iio: fix memory leak in iio_device_register_eventset()
In the Linux kernel, the following vulnerability has been resolved:
iio: fix memory leak in iio_device_register_eventset()
When iio_device_register_sysfs_group() returns failed,
iio_device_register_eventset() needs to free attrs array.
Otherwise, kmemleak would scan & report memory leak as below:
unreferenced object 0xffff88810a1cc3c0 (size 32):
comm "100-i2c-vcnl302", pid 728, jiffies 4295052307 (age 156.027s)
backtrace:
__kmalloc+0x46/0x1b0
iio_device_register_eventset at drivers/iio/industrialio-event.c:541
__iio_device_register at drivers/iio/industrialio-core.c:1959
__devm_iio_device_register at drivers/iio/industrialio-core.c:2040
CVE 정보
EPSS
EPSS는 취약점이 악용될 가능성을 예측하는 점수 모델입니다.
EPSS 점수
EPSS 모델은 0과 1(0~100%) 사이의 확률 점수를 생성합니다. 점수가 높을수록 취약점이 악용될 가능성이 높습니다.
날짜
EPSS V0
EPSS V1
EPSS V2 (> 2022-02-04)
EPSS V3 (> 2025-03-07)
EPSS V4 (> 2025-03-17)
2025-10-23
–
–
–
–
0.02%
2025-10-28
–
–
–
–
0.02%
2025-11-18
–
–
–
–
0.02%
2025-11-21
–
–
–
–
0.02%
2025-11-23
–
–
–
–
0.03%
2025-12-29
–
–
–
–
0.03%
2026-02-22
–
–
–
–
0.03%
2026-03-22
–
–
–
–
0.02%
2026-04-05
–
–
–
–
0.03%
2026-05-31
–
–
–
–
0.03%
EPSS 백분위수
백분위수는 EPSS 점수에 따라 CVE의 순위를 매기는 데 사용됩니다. 예를 들어 EPSS 점수 기준 95번째 백분위수의 CVE는 다른 CVE의 95%보다 악용될 가능성이 높습니다.