Szczegóły kategorii CWE-1195

CWE-1195

Manufacturing and Life Cycle Management Concerns
Draft
2020-02-24 +00:00
2023-06-29 +00:00
CWE Mitre.org
Powiadomienia dla konkretnego CWE
Bądź na bieżąco z wszelkimi zmianami dotyczącymi konkretnego CWE.
Zarządzaj powiadomieniami

Nazwa: Manufacturing and Life Cycle Management Concerns

Weaknesses in this category are root-caused to defects that arise in the semiconductor-manufacturing process or during the life cycle and supply chain.

Lista członków CWE

CWE-1059: Insufficient Technical Documentation Base

CWE-1248: Semiconductor Defects in Hardware Logic with Security-Sensitive Implications Base

CWE-1266: Improper Scrubbing of Sensitive Data from Decommissioned Device Base

CWE-1269: Product Released in Non-Release Configuration Base

CWE-1273: Device Unlock Credential Sharing Base

CWE-1297: Unprotected Confidential Information on Device is Accessible by OSAT Vendors Base

Informacje CWE

Uwagi dotyczące mapowania podatności

Uzasadnienie : This entry is a Category. Using categories for mapping has been discouraged since 2019. Categories are informal organizational groupings of weaknesses that can help CWE users with data aggregation, navigation, and browsing. However, they are not weaknesses in themselves.
Komentarz : See member weaknesses of this category.

Zgłoszenie

Nazwa Organizacja Data Data wydania Version
CWE Content Team MITRE 2019-12-27 +00:00 2020-02-24 +00:00 4.0

Modyfikacje

Nazwa Organizacja Data Komentarz
CWE Content Team MITRE 2020-06-25 +00:00 updated Relationships
CWE Content Team MITRE 2020-08-20 +00:00 updated Relationships
CWE Content Team MITRE 2022-04-28 +00:00 updated Relationships
CWE Content Team MITRE 2022-10-13 +00:00 updated Relationships
CWE Content Team MITRE 2023-04-27 +00:00 updated Mapping_Notes
CWE Content Team MITRE 2023-06-29 +00:00 updated Mapping_Notes
Informacje prezentowane na CVE Find pochodzą z kilku starannie wybranych źródeł referencyjnych. Dane CVE są dostarczane przez MITRE Corporation i Narodową Bazę Podatności (NVD). Katalog znanych eksploatowanych podatności (KEV) pochodzi z Agencji ds. Bezpieczeństwa Cyberprzestrzeni i Infrastruktury (CISA), natomiast wyniki EPSS pochodzą z FIRST.org. Ponadto dane dotyczące słabości oprogramowania (CWE) i typowych wzorców ataków (CAPEC) są utrzymywane przez MITRE Corporation, a informacje o konfiguracjach sprzętu i oprogramowania (CPE) są dostarczane przez NVD.